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          貴金屬檢測儀

          貴金屬檢測儀XF-S7
          貴金屬檢測儀XF-S7
          探測器:原裝進口SDD探測器
          精準度:±0.01%
          分辨率:129ev ± 5ev
          額定功率: 150W
          規格尺寸:467×370×336(mm)
          儀器重量:40kg
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          • 產品詳情
            貴金屬檢測儀XF-S7外觀
             
                   該款貴金屬檢測儀XF-S7是西凡西凡儀器2020全新款,一款可以測戒指內圈成分的貴金屬檢測儀,自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一,是一款高端配置的全元素高端檢測儀。它配備了進口Fast SDD探測器擁有十多項研發專利,性能突出,采用進口Fast SDD探測器,搭載ARM Cortex-A53四核處理器,Linux操作系統。


            該款儀器的測試原理

            貴金屬檢測儀XF-S7的主要參數:

            核心特征:可測戒指內圈+高精確度±0.01%
            精確度: ±0.01%
            整機分辨率:130±5eV
            探測器: 進口Fast SDD探測器
            適用溫度: -11~46℃
            規格尺寸:467×370×336(mm)
            樣品腔:310×248×124(mm)
            主體結構:高強度金屬支架+鋁合金外殼
            電腦操作系統:ARM 四核+Linux
            熱敏打印機:支持
            天平/密度儀:支持
            電池支持:否
            樣品可視:支持(鉛玻璃)
            電壓: 100V~240V
            額定功率:150W
            重量:40公斤

            西凡儀器的企業優勢

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