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          西凡儀器新款貴金屬檢測儀面世

          更新時間??2022-04-20 17:15 閱讀
                   
          西凡儀器新款貴金屬檢測儀面世,該款貴金屬檢測儀具有獨特的優勢,真正可以檢測戒指內圈的光譜測金儀器。該款貴金屬檢測儀就是西凡XF-S7。
          該款貴金屬檢測儀XF-S7是西凡西凡儀器2020全新款,一款可以測戒指內圈成分的光譜測金儀器,自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一,是一款高端配置的全元素高端檢測儀。它配備了進口Fast SDD探測器擁有十多項研發專利,性能突出,采用進口Fast SDD探測器,搭載ARM Cortex-A53四核處理器,Linux操作系統。
          新款貴金屬檢測儀的外觀
          選擇西凡貴金屬檢測儀XF-S7的核心特征及優勢:
           
          可測內圈:一款可檢測戒指內圈成分的光譜測金儀;
          測試補償:通過調節攝像頭焦距,準確明晰樣品的測試部位,并通過距離補償測試結果;
          準確定位:采用松下伺服電機,控制0.3mm準直器準確定位;
          微距光管:采用薄Be窗微距點光管,保證測試的準確穩定性;
          靜音降噪:采用日本靜音風扇及熱源分析系統,高度降噪并大大提升儀器的長期穩定性,延長使用壽命;
          四核處理器+Linux系統:自主研發的工控主板,搭載ARM Cortex-A53四核處理器,采用linux操作系統,帶來更好的系統穩定性,提升自定義空間和定制功能;
          Fast SDD探測器:采用定制進口高分辨率Fast SDD探測器,有效提升檢測精準度和儀器的測試穩定性;
           
           

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